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書籍 | 光学全般

SPIEフィールドガイド 偏光
商品コード: 9784902312324

SPIEフィールドガイド 偏光

販売価格(税込) 3,996 円
ポイント: 39 Pt
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Edward Collett 著
笠原一郎 訳
A5変形 160頁 リング製本
2008/9/1
原著:Field Guide to Polarization
オプトロニクス社

刊行趣旨

偏光に関する科学や技術のエッセンスを蒸留濃縮して、机上で広げるにも、持ち運ぶにも便利でハンディーな参考書兼ハンドブックである。光学の基礎、光学原理の基本的事項から技術的、実際的側面、さらに参考文献に至るまでが、項目別に参照しやすい配列でまとめられている。

読者対象

現場の技術者・研究者向け

著者紹介

SPIEフィールドガイドは現場の技術者や研究者向けに書かれた光関連シリーズ

目次

原著 Field Guide to Polarization


偏光の基礎(The Foundations of Polarized Light)

 光の光線理論(The Ray Theory of Light)
 光の偏光(The Polarization of Light)
 マリュスの法則(Malus’s Law)
 ブルースターの法則(Brewster’s Law)

光の波動論(The Wave Theory of Light)

 フレネルの波動論 (Fresnel’s Wave Theory)
 偏光楕円(The Polarization Ellipse)
 縮退した偏光状態(Degenerate Polarization States)
 偏光楕円のパラメータ(The Parameters of the Polarization Ellipse)
 ポアンカレ球(The Poincar Sphere)
 ポアンカレ球上の縮退状態(Degenerate States on the Poincar Sphere)

偏光の表現法(The Observable of Polarized Light)

 ストークスの偏光パラメータ(The Stokes Polarization Parameters)
 ストークスパラメータの関係式(Stokes Parameter Relations)
 ストークスパラメータの古典的測定方法(Classical Measurement of the Stokes Parameters)
 偏光素子のミューラー行列(The Mueller Matrices for Polarizing Components)
  偏光子(Polarizers)
  波長板(Wave Plates)
 旋光子(Rotators)
 回転する素子のミューラー行列(Mueller Matrices for Rotated Components)
 ミューラー行列の応用-マリュスの法則(Mueller Matrix Applications: Malus’s Law)
 ミューラー行列の応用-光シャッタ(Mueller Matrix Applications - The Optical Shutter)
 ミューラー行列の応用-ストークスパラメータ(Mueller Matrix Applications - Stokes Parameters)

偏光表示球(The Observable Polarization Sphere)

 偏光表示球(The Observable Polarization Sphere)
 OPS上の1/4波長板回転の軌跡 Plotting the Quarter-Wave Plate on the OPS)
 1/4波長板の回転(The Rotating Quarter-Wave Plate)
 バビネソレイユ補償器(The Babinet-Soleil Compensator)
 直線偏光子と円偏光子(Linear and Circular Polarizers)
 楕円偏光の作り方(The Generation of Elliptically Polarized Light)
 ストークスパラメータの測定法(Measurement Methods of the Stokes Parameters)
 1/4波長板回転による測定(The Rotating Quarter-Wave Plate Measurement)
 複屈折結晶と波長板(Birefringent Crystals and Wave Plates)
 高次波長板と0次波長板(Multiple and Zero-Order Wave Plates)

反射と透過(Reflection and Transmission)

 反射と透過のミューラー行列(Mueller Matrices for Reflection and Transmission)
 反射と透過のストークスパラメータ(Reflection and Transmission Stokes Parameters)
 反射と透過のミューラー行列(Reflection and Transmission Mueller Matrices)
 全反射(Total Internal Reflection (TIR))
 フレネルロム(The Fresnel Rhomb)
 単板および複数枚の誘電体プレート(Single and Multiple Dielectric Plates)
 誘電体板の積み重ね偏光子(Pile of Polarizing Dielectric Plates)
 フレネル反射係数、透過係数(Fresnel’s Reflection and Transmission Coefficients)

その他の偏光マトリクス計算法(Other Polarization Matrix Calculi)

 ジョーンズマトリクス計算法(The Jones Matrix Calculus)
 ウォルフのコヒーレンシィ行列計算法(Wolf’s Coherency Matrix Calculus)

光学活性と旋光(Optical Activity and Optical Rotation)

 光学活性と旋光(Optical Activity and Optical Rotation)
 ファラディ回転(Faraday Rotation)
 光アイソレータ(Optical Isolators)

デポラライザ(Depolarizers)

 波長板型偏光解消器(Wave plate Depolarizers)
 リオの結晶型偏光解消器(The Lyot Crystal Depolarizer)

偏光用材料(Polarizing Materials)

 偏光子(Polarizers)
 偏光プリズム(Polarizing Prisms)
 偏光子の特性評価(Characterizing Polarizers)
 波長板材料(Wave Plate Materials)

偏光ビームの重ね合わせと分離(Superposition and Decomposition of Polarized Beams)

 インコヒーレント光の重ね合わせと分離Incoherent Superposition and Decomposition)
 インコヒーレント光の分離-楕円偏光(Incoherent Decomposition-Ellipses)
 コヒーレント光の重ね合わせと分離(Coherent Superposition and Decomposition)

電気光学効果(The Electro-Optical Effect)

 電気光学効果-変調器(The Electro-Optical Effect-Modulators)
 ポッケルスセル(The Pockels Cell)

屈折率の測定(Refractive Index Measurement)

 屈折率の測定(Refractive Index Measurement)

輻射場(The Radiation Field)

 マクスウェルの方程式(Maxwell’s Equations)
 輻射の式とストークスパラメータ(The Radiation Equation and the Stokes Parameters)
 上下振動する束縛電荷(The Linear Oscillating Bound Charge)
 不規則振動する束縛電荷(The Randomly Oscillating Bound Charge)
 円運動する電荷(A Charge Moving in a Circle)
 磁場内を運動する電荷(A Charge Moving in a Magnetic Field)
 古典的ゼーマン効果(The Classical Zeeman Effect)
 光散乱(Optical Scattering)

金属と半導体の光学(The Optics of Metals and Semiconductors)

 金属と半導体の光学(The Optics of Metals and Semiconductors)
 屈折率と吸収係数(Refractive Index and Absorption Coefficient)
 入射角と反射率(Incidence Angle Reflectivity)
 複素反射係数(Complex Reflection Coefficients)
 主入射角測定(The Principal Angle of Incidence Measurement)

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