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書籍 | 光学全般

SPIEフィールドガイド 赤外線システム
商品コード: 9784902312355

SPIEフィールドガイド 赤外線システム

販売価格(税込) 3,996 円
ポイント: 39 Pt
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Arnold Daniels 著
小檜山光信 訳
A5変形 約152頁 リング製本
2008/9/1
原著:Field Guide to Infrared Systems
オプトロニクス社

刊行趣旨

本シリーズでは、先人の英知に学び、その重要な原理や技術を採り上げて、ラボでも現場でもすぐに参照できる分かりやすい実用書として作成されている。光学の基礎原理などの基本的事項から技術、および実用面、さらに参考文献に至るまで、項目別に参照しやすい配列でまとめられている。また共通の統一されたレイアウトと記号を使用し、読者への平易な解説に努めている。

読者対象

現場の技術者・研究者向け

著者紹介

SPIEフィールドガイドは現場の技術者や研究者向けに書かれた光関連シリーズ

目次

原著 Field Guide to Infrared Systems


サンプルページを見る
※PDFファイル 約 863 KB


はじめに(Introduction)

 電磁スペクトル(Electromagnetic Spectrum)
 赤外線の概念(Infrared Concepts)

光学系(Optics)

 結像の概念(Imaging Concepts)
 倍率ファクター(Magnification Factors)
 厚肉レンズ(Thick Lenses)
 絞りと瞳(Stop and Pupils)
 Fナンバーと開口数(F-number and Numerical Aperture)
 視野(Field of View)
 レンズの組み合わせ(Combination of Lenses)
 アフォーカルシステムと屈折望遠鏡(Afocal Systems and Refractive Telescopes)
 コールド絞り効率と視野絞り(Cold-Stop Efficiency and Field Stop)
 結像性能(Image Quality)
 赤外線システムの像異常(Image Anomalies in Infrared Systems)
 赤外材料(Infrared Materials)
 材料の分散(Material Dispersion)
 大気の透過率(Atmospheric Transmittance)

放射測定と光源(Radiometry and Sources)

 立体角(Solid Angle)
 放射測定(Radiometry)
 放射測定の用語(Radiometric Terms)
 光束伝達(Flux Transfer)
 結像システムの光束伝達(Flux Transfer for Image-Forming Systems)
 光源の配置(Source Configurations)
 黒体放射体(Blackbody Radiators)
 プランクの放射則(Planck’s Radiation Law)
 ステファン・ボルツマンの法則とウィーンの変位則(Stefan-Boltzmann and Wien’s Displacement Laws)
 レイリー・ジーンズの放射則とウィーンの放射則(Rayleigh-Jeans and Wien’s Radiation Laws)
 発散度コントラスト(Exitance Contrast)
 放射率( Emissivity)
 キルヒホッフの法則(Kirchhoff’s Law)
 種々の材料の放射率(Emissivity of Various Common Materials)
 温度の放射測定(Radiometric Measure of Temperature)
 コリメーター( Collimators)

光検出器の性能パラメーター(Performance Parameters for Optical Detectors)

 赤外検出器( Infrared Detectors)
 検出器雑音の主な発生要因(Primary Sources of Detector Noise)
 雑音パワースペクトル密度(Noise Power Spectral Density)
 白色雑音(White Noise)
 雑音等価バンド幅(Noise-Equivalent Bandwidth)
 ショット雑音(Shot Noise)
 S/N比:検出器とBLIP限界 (Signal-to-Noise Ratio: Detector and BLIP Limits)
 生成・再結合雑音(Generation-Recombination Noise)
 ジョンソン雑音(Johnson Noise)
 1/f 雑音と温度雑音(1/f Noise and Temperature Noise)
 検出器の応答速度(Detector Responsivity)
 スペクトル応答速度(Spectral Responsivity)
 黒体応答速度(Blackbody Responsivity)
 雑音等価パワー(Noise Equivalent Power)
 規格化検出感度(Specific or Normalized Detectivity)
 光起電力検出器、つまりフォトダイオード(Photovoltaic Detectors or Photodiodes)
 PV検出器の雑音源(Sources of Noise in PV Detectors)
 D*PV,BLIP、D**PV,BLIP および D*PV,JOLI の式(Expressions for D*PV,BLIP、D**PV,BLIP and D*PV,JOLI)
 光導電検出器(Photoconductive Detectors)
 PC検出器の雑音源(Sources of Noise in PC Detectors)
 焦電検出器(Pyroelectric Detectors)
 ボロメーター(Bolometers)
 ボロメーター:浸漬光学(Bolometers: Immersion Optics)
 熱電検出器(Thermoelectric Detectors)

赤外線システム(Infrared Systems)

 ラスター走査フォーマット:単一検出器(Raster Scan Format: Single-Detector)
 マルチ検出器走査フォーマット:連続画面の詳細検討(Multiple-Detector Scan Formats: Serial Scene Dissection)
 マルチ検出器走査フォーマット:並列画面の詳細検討(Multiple-Detector Scan Formats: Parallel Scene Dissection)
 ステアリングシステム(Staring Systems)
 探索システムと範囲式(Search Systems and Range Equation)
 雑音等価放射照度(Noise Equivalent Irradiance)
 性能仕様:熱イメージングシステム(Performance Specification: Thermal-Imaging Systems)
 MTFの定義(MTF Definitions)
 光学MTF:計算(Optics MTF: Calculations)
 エレクトロニクスMTF:計算(Electronics MTF: Calculations)
 MTF測定構成とサンプリング効果(MTF Measurement Setup and Sampling Effects)
 MTF測定技術:PSFとLSF(MTF Measurement Techniques: PSF and LSF)
 MTF測定技術:ESFとCTF(MTF Measurement Techniques: ESF and CTF)
 MTF測定技術:擬似雑音ターゲット(MTF Measurement Techniques: Noiselike Targets)
 MTF測定技術:干渉法(MTF Measurement Techniques: Interferometry)
 雑音等価温度差(Noise Equivalent Temperature Difference)
 NETD測定技術(NETD Measurement Technique)
 最小分解温度差(Minimum Resolvable Temperature Difference)
 MRTD:計算(MRTD: Calculation)
 MRTD測定技術(MRTD Measurement Technique)
 MRTD測定:自動テスト(MRTD Measurement: Automatic Test)
 ジョンソン基準(Johnson Criteria)
 赤外線のアプリケーション(Infrared Applications)

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