書籍 | ナノテク
商品コード：
9784946553035
ナノ・フォトニクス
販売価格(税込)：
1,980
円
ポイント：
19
Pt
大津元一
四六判 214頁
1999/12/6
デッドロックを乗り越えるためのパラダイム・シフトの方向を紹介
米田出版 刊行
概要目次
第1章 光技術にデッドロックあり
第2章 近接場光でデッドロックを乗り越える
第3章 プローブ開発の勝利
第4章 見る
第5章 分析する、診断する
第6章 加工する
第7章 夢の光メモリ
第8章 そしてアトム・フォトニクスの幕開け
第9章 わかっていないこと、なすべきこと -あとがきにかえて-
詳細目次
まえがき
第1章 光技術にデッドロックあり
(こぼれ話1) 光の回折
第2章 近接場光でデッドロックを乗り越える
第1節 近接場光 - その発生と測定
(こぼれ話2) 蛇口にぶら下がる水滴 近接場光のアナロジー
第2節 近接場光の利用
(こぼれ話3) 近接場光の発祥
(こぼれ話4) 近接場光学顕微鏡の英語名
第3章 プローブ開発の勝利
第1節 ファイバプローブが決め手
第2節 ファイバ加工によるプローブ
(こぼれ話5)現代の宝石・ファイバ
(こぼれ話6)フィバプローブはアモルファス?
(こぼれ話7)近接場光と私
第4章 見る
第1節 見るための装置
プローブの制御
振動と熱ドリフトの除去
散乱光の除去
種々の雑音の除去
高感度測定法の採用
第2節 見た結果
(こぼれ話8)試料準備は辛いよ
第3節 見ることの将来 特に生物物試料に関して
第5章 分析する、診断する
第1節 近接場光を使う利点
第2節 横方向 pn 接合の多角的分析
フォトルミネッセンス測定
エレクトロルミネッセンスと光励起電流の測定
第3節 半導体の単一量子ドットのフォトルミネッセンス測定
第4節 ラマン分光分析
ポリジアセチレン
単結晶シリコン
βカロチン
(こぼれ話9)ごみに埋もれた宝を探す
第5節 実際のデバイスの分析、診断
シリコン電子デバイスの診断
集積回路の配線の診断
光導波路の診断
第6節 分析、診断することの将来 特に電子デバイス、光デバイスに関して
電子デバイス
光デバイス
第6章 加工する
第1節 なぜ、どのように加工?
第2節 「削る」ことより「積み上げる」こと
第3節 ナノ・フォトニクスのための集積化へ向けて
(こぼれ話10)船から飛行機へ、真空管からトランジスタへ
第7章 夢の光メモリ
第1節 光メモリは崖っぷち
第2節 問題点の抽出と解決策
ソフトウェアに関して
ハードウェアに関して
ハードウェア デバイスに関して
(こぼれ話11)光メモリは微小なカーリング
第3節 実現に向けて
第8章 そしてアトム・フォトニクスの幕開け
第1節 近接場光による原子操作とその原理
第2節 中空ファイバによる原子の誘導
(こぼれ話12)まずルビジウムより始めよ
(こぼれ話13)ファイバ技術者は全能の神
(こぼれ話14)直径3ミリメートル、長さ300メートルの管のなかを通り抜けるには?
第3節 原子の誘導の発展
同位体分離
原子流量制御と原子堆積
そして原子・量子ドットへ向けて
第9章 わかっていないこと、なすべきこと -あとがきにかえて-
近接場光の理論
物理定数の意味の見直し
材料
デバイス
加工
走査
計測
原子操作
詳説
光の屈折限界
近接場光の発生
近接場光の測定
近接場光と光学の教科書に記されている「エバネッセント光」との違い
近接場光は何色? 波長との決別
走査プローブ顕微鏡のファミリー
ファイバプローブ先端を電子顕微鏡で見ると?
表面プラズモンとは
せん断応力と虚像
分解能評価のための標準試料として回折格子が使えるか?
半導体とそのなかの電子のエネルギー帯
量子ドット
光の吸収と発光
光子とその計数 微弱光検出のために
ラマン効果(ラマン散乱)
非線形光学効果
近接場で小さな物質を堆積できるのはなぜか?
磁気ディスクメモリとその限界
再生ヘッドの構成について
再生時のトラッキングの回避
回折限界達成のためのMarechal Criterion
原子の熱運動の速度と等価温度
光による双極子力
原子の漏斗
参考文献
事項索引
